測(cè)量技術(shù)擴(kuò)展了內(nèi)窺檢測(cè)技術(shù)的應(yīng)用范圍，使內(nèi)窺鏡從一種觀察工具發(fā)展成為具有高精度定量分析能力的多功能設(shè)備，不僅可以對(duì)缺陷進(jìn)行量化分析，也可以對(duì)被檢測(cè)空間內(nèi)的預(yù)設(shè)參數(shù)進(jìn)行測(cè)量，實(shí)現(xiàn)了內(nèi)窺檢測(cè)技術(shù)的質(zhì)的飛躍。

工業(yè)內(nèi)窺鏡測(cè)量技術(shù)的特點(diǎn)：

內(nèi)窺檢測(cè)所觀察得到的是放大的圖像，并需要在放大的圖像上測(cè)量所需位點(diǎn)間的距離，測(cè)量的準(zhǔn)確性與放大倍數(shù)、鏡頭參數(shù)、鏡頭到物體的距離、照明條件等因素有關(guān)。眾所周知，內(nèi)窺檢測(cè)對(duì)象是三維立體的實(shí)體，而圖像只能是一個(gè)二維平面，由于視角的關(guān)系，立體結(jié)構(gòu)的不同位置在平面圖像上反映的放大倍數(shù)是不同的，所以內(nèi)窺測(cè)量技術(shù)通常要求在同一平面圖像上滿足水平與垂直兩個(gè)方向的測(cè)量要求，以期獲得更可靠的測(cè)量結(jié)果。

測(cè)量?jī)?nèi)容有哪些？

由于缺陷種類的多樣化，因此需要測(cè)量的指標(biāo)也有線型、面型等多種形式，具體包括：長(zhǎng)度、距離（點(diǎn)到線）、面積、折線段、深度等，各工業(yè)內(nèi)窺鏡廠商通常開(kāi)發(fā)相應(yīng)的測(cè)量方法（測(cè)量模式）來(lái)測(cè)量這些指標(biāo)。此外，還有一些比較好的工業(yè)內(nèi)窺鏡品牌開(kāi)發(fā)了更為先進(jìn)的測(cè)量方法，更有針對(duì)性地提高測(cè)量的準(zhǔn)確性和效率，例如韋林工業(yè)內(nèi)窺鏡的深度剖面、區(qū)域深度剖面、測(cè)量平面、渦輪葉片與機(jī)匣間隙自動(dòng)測(cè)量、以及半徑計(jì)測(cè)量等。

工業(yè)內(nèi)窺鏡測(cè)量技術(shù)有哪些？

這里介紹三種測(cè)量技術(shù)：陰影測(cè)量法、雙物鏡測(cè)量法、相位掃描三維立體測(cè)量法。

1、陰影測(cè)量法：根據(jù)固定標(biāo)記在不同距離平面上投影的位置變化與其距離有比例關(guān)系這一特點(diǎn)，利用陰影投射及三角幾何原理進(jìn)行測(cè)量。在進(jìn)行斜面、垂直面（即深度）測(cè)量時(shí)，對(duì)探頭與觀測(cè)位置有一定的要求，否則難以保證測(cè)量精度。

2、 雙物鏡測(cè)量法：利用不同位置兩個(gè)鏡頭對(duì)同一物體進(jìn)行觀察時(shí)會(huì)形成兩個(gè)不同位置的圖像的原理，通過(guò)視差和三角幾何原理進(jìn)行測(cè)量。缺點(diǎn)是雙物鏡鏡頭對(duì)物體進(jìn)行觀察時(shí)，由于雙鏡的采用，導(dǎo)致觀察效果不理想，一般常利用非測(cè)量探頭進(jìn)行觀察找到缺陷或測(cè)量位置后再用雙物鏡鏡頭進(jìn)行測(cè)量，操作比較不方便。

3、相位掃描三維立體測(cè)量法：相位掃描三維立體檢測(cè)及其重構(gòu)技術(shù)是計(jì)算機(jī)圖像處理技術(shù)的基礎(chǔ)上，應(yīng)用非接觸性的快速獲取三維物體輪廓的檢測(cè)方法——利用投影光柵法、相位分析、以及相位高度轉(zhuǎn)換算法，得到物體輪廓的三維數(shù)據(jù)信息。三維立體相位掃描檢測(cè)可實(shí)現(xiàn)單一物鏡全屏顯示畫(huà)面，無(wú)需交替使用觀察和測(cè)量鏡頭，操作順暢，且可任意角度觀看三維立體點(diǎn)云模型，可查看深度圖、垂直剖面（切片）視圖等，使缺陷的形狀和特征變得更加清晰，便于檢測(cè)人員對(duì)于被檢測(cè)物的可用性做出更準(zhǔn)確的判斷。

工業(yè)內(nèi)窺鏡測(cè)量技術(shù)可以幫助檢測(cè)人員對(duì)缺陷損傷的大小尺寸進(jìn)行測(cè)量，從而更加自信地對(duì)損傷進(jìn)行定量評(píng)估，對(duì)產(chǎn)品性能進(jìn)行分析，讓內(nèi)窺檢測(cè)從定性觀察的“看圖說(shuō)話”，拓展成一種有數(shù)據(jù)支撐的檢測(cè)手段。

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